產品特點：可定製BIAS偏壓端子組數，提供產品通電測試通過電腦安全便捷的遠程訪問多層級的敏感數據保護便捷的程序入口、試驗設置和產品監控試驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件

產品特點：用戶可以查看他們希望查看任何數據通過電腦安全便捷的遠程訪問多層級的敏感數據保護便捷的程序入口、試驗設置和產品監控試驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸hast測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。

本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。滿足試驗標準：GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

內箱容積（圓桶）：￠300×D450、￠400×D550溫度範圍：+110～+132℃、+110℃～+147℃壓力範圍：壓力表+0.2～2.0kg/cm²、壓力表+0.2～3.0kg/cm²、壓力表+0.3～3.5kg/cm²濕度範圍：65%～100%R.H(可調)適用範圍：本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。

可按需定製溫度範圍：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可選壓力範圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)濕度範圍：65%～100%R.H(可調)濕度波動度：非飽和控製：±2.5%R.H、濕潤飽和控製：100%R.Hhast高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。

無偏hast方法是為了評估非密封封裝固態器件在潮濕環境中的可靠性的試驗方法。這是一種高度加速試驗，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護材料和金屬導體之間的界麵滲透。本試驗中不采用偏壓，以確保可能被偏壓掩蓋的失效機製可以被揭示（如電偶腐蝕)。此測試用於識別封裝內部的故障機製，具有破壞性。

芯片是電子信息產品重要的元器件，是高端製造業的是核心基石！幾乎每種電子設備，電腦、手機、家電、汽車、高鐵、電網、醫療儀器、機器人、工業控製等都使用芯片。水蜜桃视频下载hast試驗箱主要應用於芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路等相關問題。

原理：試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環境下，加速濕氣穿過外部的保護層，或沿著金屬和外保護層的分界麵穿透，造成試樣的失效。設備物料：1.控製的環境：需要在上升至特定的測試環境或從特定的環境下降時，保證壓力、溫度和相對濕度的hast試驗箱；2.溫度曲線記錄：需要記錄每個測試循環的溫度曲線，以保證能核實壓力的有效性；3.試樣必須位於溫度梯度小處，離內壁至少3cm，不能接觸到熱源的直接輻射加熱；