針對鋁薄膜進行了快速冷熱循環試驗。模擬焦耳熱變化並研究影響機理。試驗結果表明。對比於恒溫加熱。焦耳熱循環變化會導致應力遷移速率持續變化。對鋁薄膜表麵形成變應力衝擊。同時加劇表麵疲勞微裂紋的形成與擴展。終使表麵小丘數量和體積顯著增加。致使集成電路失效概率大幅提高。 

晶體矽太陽能電池片冷熱循環試驗(圖)2018-06-158:58水蜜桃视频下载儀器-->本測試方法主要用於耐濕性評估和強健性測試。樣品放置於一個高壓、高濕環境下，在壓力下濕氣進入封裝，使弱點暴露，如分層、金屬腐蝕。本測試用於評估新封裝或封裝材料變更（塑封料、芯片鈍化層）或設計變更（如芯片、觸點尺寸）。但本試驗不應用於基於......

 多晶矽及單晶矽電池片中，每組各自取8片，再根據GB/T9535-2005/IEC61215-2005中的冷熱循環試驗條件進行冷熱循環試驗，在相對濕度小於60%的情況下，電池片放置在蜜桃裸体直播免费版中，在（–40±2）℃和（85±2）℃溫度之間不斷循環，並保證在兩個溫度的保持時間15min，一次循環約4h。每循環5次取出樣品進行電性能測試。