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微電子器件常用的<i style='color:red'>低氣壓試驗標準</i>

微電子器件常用的低氣壓試驗標準

通常,微電子器件產品使用如下幾個低氣壓試驗標準: 1)CJB150.2A-2009《軍用裝備實驗室環境試驗方法第二部分低氣壓(高度)試驗》;2)GJB360B-2009《電子及電氣元件試驗方法方法105低氣壓試驗》(等效美軍標MIL-STD-202F);3)GJB548B-2005《微電子器件試驗方法和程序方法1001低氣壓(高空作業)》(等效美軍標MIL-STD-883D);
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【幹貨】低氣壓試驗標準資料大全

確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力;確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力;檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應;有時候可用於確定機電元件的耐久性。

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