HAST與HALT、HASS之間的關係與區別
作者：
salmon範
編輯：
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來源：
www.xluohao.com
發布日期： 2020.11.09
高加速應力試驗(HAST)是指，通過使用高於正常工作應力，對器件實施相應試驗，確定器件薄弱環節及極限參數。主要分為高加速壽命試驗(HALT)和高加速應力篩選(HASS)，其特點是通過人為的對器件施加各種遠超過器件設計規範規定的敏感應力組合，快速地將器件內部缺陷或薄弱環節激發出來，從而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。
高加速壽命試驗(HALT)屬於破壞性試驗，主要使用在器件的設計環節，通過逐步升高器件的試驗應力，確定器件的工作裕度值，從而得出器件對環境的耐受能力，改進設計。同時通過對器件實施一係列的高加速壽命試驗(HALT)，還可以確定器件在環境應力作用下的各應力極限值，為後續的高加速應力篩選(HASS)剖麵參數的設計提供依據，得到高效的篩選剖麵。HALT試驗的實施，一方麵提高了器件的可靠性，另一方麵也降低了器件的設計周期和維護成本。
高加速應力篩選(HASS)是以傳統的ESS為根本發展起來的一種工藝方法，如表1所示，其目的在於，在不過度損傷器件有效壽命的基礎上，選用高水平的篩選應力組合，高效的發現並剔除缺陷器件，提高器件在實際應用中的可靠性。
表1 高加速應力篩選與傳統ESS的比較
國外進口的工業級電子器件，一般采用的是常規的篩選方法，當這種經過常規篩選的電子器件用於嚴苛的航天任務時，器件中未篩選出來的有缺陷的產品將發生失效，導致器件使用可靠性低，因此有必要針對電子器件進行高加速應力篩選技術的研究，通過更高的篩選應力將器件中有缺陷的產品盡可能多的篩選出來。
